1nm〜6000nm。
高濃度から希薄系に至る、幅広い測定濃度レンジ測定を実現させた、HORIBA独自の光学設計。
半導体レーザから照射された光をレンズで集光させ、焦点位置を出来るだけセルの内壁に近付けることで、高濃度試料の多重散乱の影響を抑えました。さらにはセルへの入射光角度を工夫することで、迷光や反射光を除去する効果が得られ、より希薄試料への対応力がアップしました
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
|
|
Copyright © 2008 HORIBA, Ltd. All rights reserved. この文書に記載されている情報は通知なく変更されることがあります。ウェブサイトで更新を確認してください。このページは次の場所からコピーされました。 |
|||