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関連製品 |
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X線分析顕微鏡
XGT-5000シリーズ
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XGT-5000
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Type I
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Type II
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XGTシステム
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高感度タイプ(空間分解能:10μm、100μm)
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−
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○
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標準タイプ(空間分解能:100μm)
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○
10μm追加可能
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−
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透過X線検出器
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○
(オプション) ※1
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○
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光学像
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全体光学像観察システム
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○
(オプション) |
○
(×1.5〜×25)
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詳細光学像同軸観察システム
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○
(×30) ※2
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○
(×100)
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光学像から測定位置指定
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○
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○
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共通仕様
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X線管
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最大50 kV、1 mA、Rhターゲット
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蛍光X線検出器
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高純度Si検出器(Xerophy)
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検出元素
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Na〜U(試料大気中にて)
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エネルギーレンジ
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0〜40 keV
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最大測定エリア/最大試料サイズ
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100 mm×100 mm / 350 mm×400 mm×40 mm
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OS
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Windows XP
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ソフトウエア
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●定性機能
自動定性、多点分析、マッチ
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●定量機能
FPM定量(スタンダードレス、1点校正)
検量線定量
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●マッピング分析
透過像・蛍光像の同時マッピング、疑似カラー、画像RGB合成、画像線分析、画像間演算、相分析(オプション)、コントラスト調整、透過像、蛍光像、光学像からの分析位置指定
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●出力
CRT表示、プリンタ出力、ファイル出力、ビットマップ出力(オプション)、印刷レイアウト(オプション)
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電源
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AC100 V、50/60 Hz、1.3 kVA以下
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装置質量
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280 kg
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外形寸法
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2110(W)×1000(D)×1350(H) mm
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周辺機器
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●真空ポンプ●カラープリンタ●MOドライブ(オプション)●CD-RWドライブ(オプション)●15インチ液晶モニタ(オプション)●透過光照明システム(オプション)
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※1 |
透過X線検出器を付けていない場合でも、マッピング時には透過X線のウィンドウが表示されます。 |
※2 |
全体光学像観察システムをオプション追加した場合(×100)になります。 |
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| ※ |
X線分析顕微鏡は、独立行政法人科学技術振興機構の新技術開発委託制度により独立行政法人物質・材料研究機構の技術援助を受け、開発に成功した装置です。<実施許諾特許> 特許:第1806535号、第1828290号、第2032556号、第2032557号
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| ※ |
X線分析顕微鏡のご使用に際しましては、電離放射線障害防止規則に基づいて、設置の30日前までに所轄の労働基準監督署への届出が必要です。 |

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