HORIBA : 2006分析展化合物半導体・ナノテク・有機ELなどの評価装置から、WEEE・RoHS指令対応の検査装置、前処理装置などをフルラインアップ

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2006分析展

表面分析(顕微鏡関連)

ラマン分析

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顕微鏡用迅速試料作製装置

TENSEC

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応力顕微鏡

(参考出品)

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エネルギー分散型X線分析装置

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顕微レーザラマン分光分析装置

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顕微レーザラマン分光分析装置

バイオ分析

粒子計測

■	蛍光分光測定装置
	FluoroMAX4(本体)

■	顕微レーザラマン分光分析装置

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置

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LA-950用小容量循環システムMiniFlow

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置

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動的光散乱式粒径分布測定装置

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デジタル画像解析式粒子径分布測定装置

カムサイザー

元素分析

薄膜分析

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炭素・硫黄分析装置

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酸素・窒素・水素分析装置

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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置

GD-Plofiler2

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分光エリプソメータ

WEEE/RoHS, ELV

流量制御

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X線分析顕微鏡

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X線分析顕微鏡

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X線分析顕微鏡

XGT-1000WR

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ICP発光分析装置

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マスフローコントローラ

SEC-Z500X(STEC)

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マスフローコントローラ

SEC-Z500シリーズ、SEC-E40シリーズ(STEC)

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残留ガス分析計

MICROPOLETM™ System(STEC)

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キャパシタンスマノメータ

VGシリーズ(STEC)

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精密膜流量計

SFシリーズ(STEC)

水質・環境分析

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pHメータ

F-50シリーズ

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pHメータ

D-50シリーズ

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導電率計

DS-50シリーズ

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導電率計

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溶存酸素

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試験管用

ToupH電極

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残留塩素計

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油分濃度計

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マルチ水質モニタリングシステム

U-20XDシリーズ/W-20XDシリーズ

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アクアeモニタ

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ポータブルVOC分析計

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放射温度計

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放射温度計

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放射温度計

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グロスチェッカ

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