HORIBA : 2007分析展化合物半導体・ナノテク・有機ELなどの評価装置から、WEEE・RoHS指令対応の検査装置、前処理装置などをフルラインアップ

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2007分析展

マイクロアナリシス

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X線分析顕微鏡

［顕微鏡周辺機器］

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顕微鏡用迅速試料作製装置

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X線検出器

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エネルギー分散型X線分析装置

XGT-7000

ラマン分析

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顕微鏡レーザラマン分光測定装置

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顕微鏡レーザラマン分光測定装置

LabRAM ARAMIS

蛍光分光分析

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蛍光分光測定装置

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顕微蛍光寿命測定装置

(参考出品)

Dinamic

FluoroMax-4

Dinamic

Dinamic

薄膜分析

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マーカス型高周波グロー放電発光表面分析装置

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分光エリプソメータ

MM-16

元素分析

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酸素・窒素分析装置

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炭素・硫黄分析装置

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ICP発光分析装置

ACTIVA-M

EMGA-920

ACTIVA-M

ACTIVA-M

粒子計測

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レーザ回折/散乱式粒子径分布測定装置

Partica LA-950V2

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動的光散乱式粒径分布測定装置

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デジタル画像解析式粒子径分布測定装置

カムサイザー

Partica LA-950V2

RoHS・ELV(有害元素検査)

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X線分析顕微鏡(大型試料室)

XGT-5000S

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X線分析顕微鏡

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有害元素蛍光X線検査装置

水質・環境分析

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卓上pHメータ

F-50シリーズ

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ハンディpHメータ

D-50シリーズ

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卓上導電率計

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導電率計

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溶存酸素計

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残留塩素計

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コンパクト硝酸イオンメータ<Twin NO₃^->

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コンパクトpHメータ<Twin pH>

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油分濃度計

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ポータブルガス分析計

PG-250

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ポータブルVOC分析計

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放射温度計

IT-540・550・230

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非接触2次元放射温度計アイスクエア

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グロスチェッカ

F-50シリーズ

F-50シリーズ

D-50シリーズ

D-50シリーズ

CL-51

FV-250

流量制御	※HORIBA STEC製品

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RoHS指令適合マスフローコントローラ

SEC-Z500Xシリーズ

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液体微少マスフローメータ/コントローラ

LF-F/LV-Fシリーズ

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高精度精密膜流量計

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残留ガス分析計

MICROPOLE™ System

SEC-Z500Xシリーズ

SEC-Z500Xシリーズ

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