HORIBA : 計測展 2006 OSAKA

HOME >> ニュース >> 過去のイベント >> 計測展 2006 OSAKA

計測展 2006 OSAKA

■

UV計

■

工業用多成分水質計

■

マルチ水質モニタリングシステム

■

水質データ遠隔監視システム

U-20AQ

■

自動水質測定装置

■

pHメータ

■

ハンディタイプ残留塩素計

■

現場設置形工業用pH計

■

パネル形工業用pH計

HP-480 / HP-960

■	大気汚染監視用測定装置
	AP-370シリーズ

■	大気汚染監視用SPM測定装置
	APDA-361SPM

■

エンジン排出固体粒子数計測システム

MEXA-1000SPCS

■

FTIR方式エンジン排ガス測定装置

■

ポータブルVOC分析計

■

ポータブルVOC分析計

NV-370(触媒酸化＋NDIR法)

■	連続排気ガス計測システム
	CEMS(EM-D5000/EM-F5000)

■	ポータブルガス分析計
	PG-250

■

ジルコニア酸素計

■

ガス浸炭炉・ガス浸炭窒化炉用分析計

■

非接触ハンディタイプ放射温度計

■

非接触高速応答型放射温度計 (参考出品)

IT-460

■

非接触温度センサ

■

非接触2次元放射温度計「アイスクエア」

■

火災監視装置

IA-100

■

マルチガス分析計

■

UVガス分析計

MU-2000

■

FTIRガス分析計

FG-100Aシリーズ

■

ハンディ光沢計「グロスチェッカ」

■

ドライブレコーダ

「どら猫」

■

マルチレンジ/マルチガスデジタルマスフローコントローラ

SEC-Z500Xシリーズ

■

マスフローコントローラ

SEC-E40シリーズ

■

残留ガス分析計

MICROPOLE™ System

Copyright © 2008 HORIBA, Ltd. All rights reserved. この文書に記載されている情報は通知なく変更されることがあります。ウェブサイトで更新を確認してください。このページは次の場所からコピーされました。