当社は、昨年創設した社外対象の研究奨励賞「堀場雅夫賞」の第2回目となる本年度募集を4月1日から開始します。今回の対象テーマは当社のガス計測におけるコア技術「赤外線計測関連技術」です。創業60周年を迎える本年、第1回のテーマであったpH計測に続く基盤技術で、HORIBAグループ発展の原動力となった「赤外線計測」に焦点を当てることで、学術的・産業的にも価値の高い同技術の可能性を追求していきます。分析・計測技術発展の将来の担い手となる方々の積極的な応募を期待するとともに、画期的でユニークな分析・計測技術に従事されている研究者・技術者を支援することで、計測技術の発展の一助になればと願っています。
<今回の応募対象:赤外線計測関連技術について>
赤外線はリモコン・センサー・データ通信など身近な場面で利用されていますが、実は計測関連でも物質の性質や構造を解析するための重要な情報源です。科学的なアプリケーションと産業的な応用範囲も広く、その可能性は現在も拡大の一途をたどっています。今回は赤外レーザー、赤外LED、検出器に代表される素材技術や光学系技術などのハードウェアから、先端材料・環境・エネルギー・ナノテク・バイオ・ライフサイエンス分野等で必要とされる応用技術まで幅広い視点からの応募が対象になります。
<応募要綱>
【募集対象】
国内外の大学または公的試験研究機関に所属する方
【募集分野】
「赤外線計測関連技術」(基礎から応用まで、計測手法は問いません)
【応募期間】
2005年4月1日(金)から5月31日(火)まで
【応募方法】
所定の申込書・所定の推薦書、技術資料、当該研究に関する論文、
過去10年間の論文リストなどを添えて応募する
応募書類など詳細は、本賞ホームページに掲載:
http://www.mh-award.org
【審査方法】
審査委員会が応募書類に基づき実績と将来性を審議し、決定します
【発 表】
審査結果は、応募者および推薦者に2005年7月末までにお知らせします
受賞者には、賞状及び副賞として
助成金1件あたり150万円を支給します
【表 彰 式】
2005年10月17日(月) 京都大学芝蘭会館
(京都市左京区吉田牛の宮11-1)
受賞者による講演やポスターセッションを通して、
研究内容を広く社会にアピールする予定です。
【応募・問い合わせ先】
郵便番号601−8510 京都市南区吉祥院宮の東町2番地
株式会社堀場製作所内 堀場雅夫賞 事務局
TEL 075−313−8121(代)
E-mail: info@mh-award.org
【審査委員会】(敬称略、順不同)
名誉審査委員長 :堀場 雅夫(堀場製作所 取締役会長)
審査委員長 :堀場 厚(堀場製作所 代表取締役社長)
副審査委員長 :川崎 昌博(京都大学 地球環境学堂 工学研究科
分子工学専攻 教授)
審査委員 :
尾崎 幸洋(関西学院大学 理工学部化学科 教授)
斉藤 光徳 (龍谷大学 理工学部電子情報学科 教授)
舟窪 浩(東京工業大学大学院 総合理工学研究科物質科学創造専攻
助教授)
特別審査委員 :
南 茂夫 (大阪大学名誉教授)
Ronald K. Hanson(スタンフォード大学教授)
<第2回堀場雅夫賞募集に当たって:堀場 雅夫>
内容、性質、挙動が不明の物質を解明することは、科学者や技術者にとって大変必要なことであります。問題を解くには高度の科学、技術を駆使した分析器が必要となります。
ただ、その重要性と高度の技術を必要とする割には一般社会は勿論のこと、学界においてもその存在は大きなものではありませんでした。当賞が地味ではあるが分析の基本をより確立する学究の徒に少しでも勇気を与えてくれることを願って、皆様からの応募をお待ちしております。