<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>

<rdf:RDF
xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#"
xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
xmlns:sy="http://purl.org/rss/1.0/modules/syndication/"
xmlns:admin="http://webns.net/mvcb/"
xmlns:cc="http://web.resource.org/cc/"
xmlns="http://purl.org/rss/1.0/">

<channel rdf:about="http://www.jp.horiba.com/products/scientific/index.htm">
<title>HORIBA 科学</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/products/scientific/index.htm</link>
<description></description>
<dc:language></dc:language>
<dc:creator></dc:creator>
<dc:date>2008-05-16</dc:date>

<items>
<rdf:Seq>
<rdf:li rdf:resource="http://www.jp.horiba.com/news/seminar/id_945.htm" />
<rdf:li rdf:resource="http://www.jp.horiba.com/news/event/id_942.htm" />
<rdf:li rdf:resource="/support/tech_info/33/" />
<rdf:li rdf:resource="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_900.htm" />
<rdf:li rdf:resource="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_897.htm" />
<rdf:li rdf:resource="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_892.htm" />
<rdf:li rdf:resource="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_888.htm" />
<rdf:li rdf:resource="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_850.htm" />

</rdf:Seq>
</items>
</channel>


<item rdf:about="http://www.jp.horiba.com/news/seminar/id_945.htm">
<title>【名古屋】マテリアルイメージングセミナー</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/news/seminar/id_945.htm</link>
<description> 昨今、微小領域の分析においてイメージング手法による解析技術の認知度が著しく上がってきています。顕微ラマン分光装置や蛍光X線分析装置の話題を中心に開催する「マテリアルイメージングセミナー」では、具体的な分析事例及び解析手法をご紹介させていただきます。とくに今回は、株式会社東レリサーチセンター　吉川正信さまをお招きし、特別講演として最先端材料やデバイスの解析事例に関する『顕微ラマン分光法による応力・結晶性のイメージング解析』も講演させていただきます。【プログラム】《12:30〜》開場・受付開始《13:00〜14: </description>
<dc:date>2008-06-10</dc:date>
<dc:subject>Event</dc:subject>
</item>
<item rdf:about="http://www.jp.horiba.com/news/event/id_942.htm">
<title>【京都】日本顕微鏡学会　第64回学術講演会</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/news/event/id_942.htm</link>
<description></description>
<dc:date>2008-05-21</dc:date>
<dc:subject>Event</dc:subject>
</item>
<item rdf:about="/support/tech_info/33/">
<title>Readout　No.33を発行</title>
<link>/support/tech_info/33/</link>
<description> 今号は，X線分析を対象技術とした2006堀場雅夫賞を特集しています。高エネルギー放射光を用いた蛍光X線分析，共鳴X線非弾性散乱，蛍光X線／ラマン複合機，屈折X線による透過画像などの受賞者論文と共に，研究開発の難しさ，X線分析のすばらしさ，X線分析顕微鏡の開発経緯，最近のX線要素技術，3次元元素イメージングなど，興味深い内容の審査委員講演抄録を掲載しています。製油所試験室から分析機器メーカへの要望についての寄稿も，これら先端の科学技術とは別の意味で，高い意義を持っています。分析技術のさまざまな側面を広く理解し </description>
<dc:date>2007-09-26</dc:date>
<dc:subject>Technical Information News</dc:subject>
</item>
<item rdf:about="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_900.htm">
<title>X線分析顕微鏡「XGT-7000V」発売</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_900.htm</link>
<description> 軽元素6倍の高感度分析の最高機種-当社は、X線を使って非破壊で試料の元素分析と光学観察を同時に行う、X線分析顕微鏡「XGT-7000V」を開発しました。29日発売します。本新型は、直径10 &amp;micro;mの分解能と真空試料室を搭載したことで、微小部の軽元素感度を最大6倍に向上した高性能機です。薬品・食品・電子部品の異物検査や不良解析に適している最上位機種です。世界最高レベルの分解能（10 &amp;micro;m）を持つ当社独自のX線集光技術（X線導管; X-ray Guide Tube）を使ったX線分析顕微鏡XGTシリーズは、非破壊で試料の光学観察・元素分析・ </description>
<dc:date>2007-08-28</dc:date>
<dc:subject>News release</dc:subject>
</item>
<item rdf:about="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_897.htm">
<title>粒子径測定装置（LA-950V2）を発売　</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_897.htm</link>
<description> 13種類の方法から最適を選んで粒子測定　粉、霧状、スラリーなどさまざまなサンプルに対応-当社は、レーザ光を使って微粒子の大きさを測定する、粒子径分布測定装置の新機種「LA−950V2」を8月29日に発売します。本製品は従来機種（LA-950）の高性能な本体構造を踏襲した上で、4種類のカスタム仕様(*1)と8種類のアクセサリ(*2)と条件や試料形状に適した測定状態をきめ細かく提供するバリエーションを用意することで、お客様のさまざまなニーズに幅広く対応します。本製品はグローバル市場をターゲットにした世界戦略製品であり、現在の国 </description>
<dc:date>2007-08-22</dc:date>
<dc:subject>News release</dc:subject>
</item>
<item rdf:about="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_892.htm">
<title>『2007 堀場雅夫賞』受賞者決定</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_892.htm</link>
<description> 授賞式は10月17日　社外の「分析計測技術」研究者の奨励賞-当社は、「分析計測技術」に関する国内外の大学または公的研究機関の研究開発者対象の奨励賞として2003年に創設した『堀場雅夫賞』の2007年受賞者をこのほど決定しました。この賞の4回目となる今回の選考テーマは、&amp;#8220;医療&amp;#8221;に関する細胞生体粒子計測です。本年4月から5月にかけて公募し、海外含め29件の応募がありました。&amp;#8220;細胞生体粒子計測&amp;#8221;分野で権威の先生など7名で構成する審査委員会が、将来性や応募研究の独創性やユニークな計測機器への発展性に重 </description>
<dc:date>2007-08-06</dc:date>
<dc:subject>News release</dc:subject>
</item>
<item rdf:about="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_888.htm">
<title>米国シリコンバレーに『ホリバテクノロジーセンター』を開設</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_888.htm</link>
<description> ハイテク産業のお膝元で開発　シリコンバレーに『ホリバテクノロジーセンター』を開設　トップシェアに向けた“米国戦略プロジェクト”本格始動　-当社は、米国の半導体やバイオテクノロジーなどハイテク産業市場からの製品ニーズに対応する為、グループ総力を結集した開発拠点『ホリバテクノロジーセンター』を、シリコンバレー（カリフォルニア州サンタクララ市）に7月13日開設します。世界の最先端技術が集結するこの地域に、グループ各社の最新機器を備えた実験室やクリーンルームなどを完備、ハイテク産業顧客との共同開発やソリュー </description>
<dc:date>2007-07-05</dc:date>
<dc:subject>News release</dc:subject>
</item>
<item rdf:about="http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_850.htm">
<title>今春スタートの中国RoHS規制に、微小・高感度の多機種品揃えで完全対応</title>
<link>http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_850.htm</link>
<description>当社は、3月開始される中国版RoHS（電子情報製品汚染制御管理便法）で有害元素物質の検査需要が増加することに対応するため、X線分析装置の品揃えを強化します。既販売機種に比べて、高感度化して分析時間を最大1/4に短縮、生産現場向け機種の新型（XGT-1700WRシリーズ）を開発、3月1日発売します。EUに続いて始まる中国の有害元素規制は、家電製品に留まらず、半導体製造装置や医療機器にまで対象製品が拡 大されるため、検査需要が業種・種類・物量共に増加が見込まれる、電気・電子・材料分野での分析検査ニーズに、微小部分析機能と </description>
<dc:date>2007-02-27</dc:date>
<dc:subject>News release</dc:subject>
</item>

</rdf:RDF>