半導体

分類


		粒子径測定装置（LA-950V2）を発売　 2007年08月22日
		米国シリコンバレーに『ホリバテクノロジーセンター』を開設 2007年07月05日
		今春スタートの中国RoHS規制に、微小・高感度の多機種品揃えで完全対応 2007年02月27日
		中国の生産体制を本格稼動へ　上海に中国2番目の工場が完成 2006年09月27日
		『2006 堀場雅夫賞』受賞者決定／授賞式は10月17日 2006年08月22日


		Readout　No.33を発行:今号は，X線分析を対象技術とした2006堀場雅夫賞を特集しています。高エネルギー放射光を用いた蛍光X線分析，共鳴X線非弾性散乱，蛍光X線／ラマン複合機，屈折X線による透過画像などの受賞者論文と共に，研究開発の難しさ，X線分析のすばらしさ，X線分析顕微鏡の開発経緯，最近のX線要素技術，3次元元素イメージングなど，興味深い内容の審査委員講演抄録を掲載しています。製油所試験室から分析機器メーカへの要望についての寄稿も，これら先端の科学技術とは別の意味で，高い意義を持っています。分析技術のさまざまな側面を広く理解していただくために，Readoutが貢献できればと願っています。 2007年09月26日

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