http://www.jp.horiba.com 2008-05-17 /support/tech_info/33/ 今号は，X線分析を対象技術とした2006堀場雅夫賞を特集しています。高エネルギー放射光を用いた蛍光X線分析，共鳴X線非弾性散乱，蛍光X線／ラマン複合機，屈折X線による透過画像などの受賞者論文と共に，研究開発の難しさ，X線分析のすばらしさ，X線分析顕微鏡の開発経緯，最近のX線要素技術，3次元元素イメージングなど，興味深い内容の審査委員講演抄録を掲載しています。製油所試験室から分析機器メーカへの要望についての寄稿も，これら先端の科学技術とは別の意味で，高い意義を持っています。分析技術のさまざまな側面を広く理解し 2007-09-26 Technical Information News http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_897.htm 13種類の方法から最適を選んで粒子測定　粉、霧状、スラリーなどさまざまなサンプルに対応-当社は、レーザ光を使って微粒子の大きさを測定する、粒子径分布測定装置の新機種「LA−950V2」を8月29日に発売します。本製品は従来機種（LA-950）の高性能な本体構造を踏襲した上で、4種類のカスタム仕様(*1)と8種類のアクセサリ(*2)と条件や試料形状に適した測定状態をきめ細かく提供するバリエーションを用意することで、お客様のさまざまなニーズに幅広く対応します。本製品はグローバル市場をターゲットにした世界戦略製品であり、現在の国 2007-08-22 News release http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_888.htm ハイテク産業のお膝元で開発　シリコンバレーに『ホリバテクノロジーセンター』を開設　トップシェアに向けた“米国戦略プロジェクト”本格始動　-当社は、米国の半導体やバイオテクノロジーなどハイテク産業市場からの製品ニーズに対応する為、グループ総力を結集した開発拠点『ホリバテクノロジーセンター』を、シリコンバレー（カリフォルニア州サンタクララ市）に7月13日開設します。世界の最先端技術が集結するこの地域に、グループ各社の最新機器を備えた実験室やクリーンルームなどを完備、ハイテク産業顧客との共同開発やソリュー 2007-07-05 News release http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_850.htm 当社は、3月開始される中国版RoHS（電子情報製品汚染制御管理便法）で有害元素物質の検査需要が増加することに対応するため、X線分析装置の品揃えを強化します。既販売機種に比べて、高感度化して分析時間を最大1/4に短縮、生産現場向け機種の新型（XGT-1700WRシリーズ）を開発、3月1日発売します。EUに続いて始まる中国の有害元素規制は、家電製品に留まらず、半導体製造装置や医療機器にまで対象製品が拡 大されるため、検査需要が業種・種類・物量共に増加が見込まれる、電気・電子・材料分野での分析検査ニーズに、微小部分析機能と 2007-02-27 News release http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_826.htm 従来比3.5倍の生産規模で、生産品目をグループ企業に拡大技術・設計拠点への拡張を目指す中国の中核拠点-当社の中国の生産子会社　「堀場儀器（上海）有限公司」は、上海市（嘉定区）に建設を進めていた、現在の工場に次ぐ中国2番目の工場がこのほど完成しました。新工場は、敷地・建物共に現有工場の3.5倍の規模で、当社グループの中国事業戦略に柔軟に対応できる広さとレイアウトです。また、現地での設計およびエンジニア育成を目的とした施設も新設した、中国での中核と位置づけた工場です。9月29日、上海市嘉定区長をはじめ来賓ご臨 2006-09-27 News release http://www.jp.horiba.com/news/news_release/id_813.htm 社外の「分析計測技術」研究者の奨励賞─-（株）堀場製作所は、「分析計測技術」に関する国内外の大学または公的研究機関の研究開発者対象の奨励賞として一昨年創設した『堀場雅夫賞』の2006年受賞者をこのほど決定しました。この賞の3回目となる今回の選考テーマは、“Ｘ線分析”です。本年4月から5月にかけて公募し、海外含め40件の応募がありました。“Ｘ線分析”分野で権威の先生など8名で構成する審査委員会が、将来性や応募研究の独創性やユニークな計測機器への発展性に重点を置いて評価し、以下の3名に決定しました。また、審査委 2006-08-22 News release